扫描探针显微镜

文章来源: 发布时间:2019-03-04

器材登记编号:2003249
型号:Ⅲa
产地:美国
厂家:BRUKE Vecoo
购置时间:2003-02-10
仪器主要特点:
通过在样品表面上扫描AFM微悬臂(或使微悬臂下的样品移动)并记录微悬臂的形变,可以测量样品表面的起伏高度。将样品的局域起伏高度对应探针尖的水平位置绘图,即可得到样品表面的三维形貌图像。利用轻敲模式技术,测量振荡微悬臂的振幅或相位变化,也可以对样品表面进行成像。